HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制
簡要描述:HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設(shè)備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式,滿足國際標(biāo)準(zhǔn)要求 。。
- 產(chǎn)品型號:DR-HAST-350Y
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-10-22
- 訪 問 量:426
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性的設(shè)備。它適用于對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。以下是HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱的一些關(guān)鍵產(chǎn)品特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域:
精確的溫濕度控制:采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式,滿足國際標(biāo)準(zhǔn)要求,如IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等。
防止結(jié)露設(shè)計:內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
多重保護(hù)功能:具備三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺停機(jī)時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等。
濕度自由選擇:可以選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)的設(shè)定,提供更大的靈活性。
智能化控制系統(tǒng):配備7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能,RS-485通訊接口。
易于清潔和操作:采用V型冷凝器,散熱面積大,冷卻效率高。冷軋板烤漆,易于保養(yǎng),耐腐蝕,耐高低溫。
多端口數(shù)據(jù)支持:具有USB接口,可直接復(fù)制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù),也可通過RS-232或RS-485接口控制機(jī)器并將數(shù)據(jù)存儲在計算機(jī)硬盤上。
滿足多種測試標(biāo)準(zhǔn):能夠滿足GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等多種國際測試標(biāo)準(zhǔn)。
廣泛應(yīng)用領(lǐng)域:廣泛應(yīng)用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)。
安全設(shè)計:內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范。
測試標(biāo)準(zhǔn)遵循:主要依據(jù)AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)定義了汽車電子器件必須通過的測試項(xiàng)目和條件。
高溫高濕應(yīng)力測試(HAST):在高溫(如130℃)、高濕(85%RH)、高壓(230KPa)的條件下進(jìn)行96小時測試,以加速水分對封裝材料的滲透,評估器件的耐久性。
無偏置高加速溫度和濕度測試(UHAST):與HAST類似,但不施加電壓偏置,用于揭示電壓偏置條件下不易發(fā)現(xiàn)的失效模式。
通電要求:根據(jù)器件的特性,可能需要在測試過程中施加持續(xù)或循環(huán)的電壓偏置。
升降溫控制:在升降溫過程中,要確保設(shè)備溫度始終在露點(diǎn)溫度之上,避免器件表面凝結(jié)。
功能檢查:在測試前后,需要對器件的外觀和電氣參數(shù)進(jìn)行檢查,確保器件在環(huán)境下的性能沒有退化。
實(shí)驗(yàn)設(shè)備:使用能夠保持規(guī)定溫度、濕度和壓力的試驗(yàn)箱,并能夠提供電氣連接和記錄試驗(yàn)周期的相關(guān)曲線。
安全措施:試驗(yàn)箱應(yīng)具備多重保護(hù)裝置,如高溫保護(hù)、濕度斷水保護(hù)等,以確保測試過程的安全。
國產(chǎn)HAST試驗(yàn)箱