HAST加速老化試驗箱是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間的試驗設(shè)備，一般用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
HAST加速老化試驗箱為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗)。

HAST高速高壓加速老化試驗箱控制系統(tǒng)：
1．采用臺制臺達(dá)彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體）．
2．采用指針顯示壓力表．
3．微電腦P．I．D自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度．
4．手動入水閥（自動補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗）．
HAST高速高壓加速老化試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
1．GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件；
2．GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗；
3．MIL-STD810D方法502．2；
4．GJB150.9-8溫濕試驗；
5．GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗；

HAST高壓加速老化試驗箱運(yùn)行操作環(huán)境應(yīng)該滿足以下要求：

電源環(huán)境：試驗箱需要接通穩(wěn)定的電源，并符合設(shè)備的額定電壓、頻率和功率標(biāo)準(zhǔn)要求。

溫度條件：試驗箱需要在相對穩(wěn)定的室溫下運(yùn)行，溫度范圍一般為5℃-40℃。同時，需要避免試驗箱受到直接陽光照射或接近高溫源。

濕度條件：試驗箱需要在相對穩(wěn)定的濕度環(huán)境下運(yùn)行，一般為30%-85%RH。需要避免試驗箱接觸水分或過度潮濕的環(huán)境。

空氣環(huán)境：試驗箱需要在通風(fēng)良好的室內(nèi)運(yùn)行，避免試驗箱受到外界污染或氣體影響。

重量承載：試驗箱需要放置在平穩(wěn)的地面上，且能夠承受試驗箱的重量和震動。需要避免試驗箱受到強(qiáng)烈的震動或振動。

其他注意事項：試驗箱需要遠(yuǎn)離易燃、易爆和腐蝕性物品等危險物品。同時，需要避免試驗箱受到強(qiáng)電磁場干擾和靜電干擾。

HAST高壓加速老化試驗箱運(yùn)行操作環(huán)境需要保持相對穩(wěn)定、安全、衛(wèi)生和干凈。只有在滿足這些條件的情況下，才能夠保證試驗箱的正常運(yùn)行，并且獲得準(zhǔn)確可靠的試驗數(shù)據(jù)。