1. 步入式高低溫交變濕熱室，可對一二次成套聯(lián)調設備、環(huán)網(wǎng)箱、配電箱等大型設備和材料進行高、低溫以及不同濕度環(huán)境和陽光輻射環(huán)境下存儲、運輸和使用時的適用性測試，以評估產品的工作性能。

2. 步入式高低溫實驗室主要由內箱、外箱、保溫層、送風循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成，其中內箱為 1.2mm 厚不銹鋼板，箱體頂部具有機械式防爆泄壓口（試驗樣品包含鋰電池換電柜）；外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板，外箱涂層耐腐蝕防刮傷；中間保溫層為高強度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風循環(huán)加熱方式制熱；制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型，冷卻塔和制冷機組放置于室外，加熱制冷系統(tǒng)由微電腦控制器控制。電路控制系統(tǒng)主要對高低溫室起控制、監(jiān)視保護作用。

3. 步入式高低溫交變實驗室內預留有氙氣燈墻（氙燈掛鉤及風冷接口），可對被試產品進行陽光輻射試驗。

4.節(jié)能設計:采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行配備冷控制 PID 自動調節(jié)技術（在線性降溫和低溫恒溫過程中，通過冷控制 PID 調節(jié)制冷輸出量達到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術）采用該模式的設計相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上.

集成電路高溫恒溫老化房（也稱為高溫老化室）是一種專門用于模擬高溫環(huán)境下對集成電路進行老化測試的設施。其主要功能是評估集成電路在高溫條件下的性能和可靠性，以驗證其在實際使用中的穩(wěn)定性和耐久性。

以下是電路高溫恒溫老化房的主要特點和功能：

高溫模擬：試驗室能夠模擬各種高溫環(huán)境，通常范圍從零上 80 度攝氏度到零上 200 度攝氏度。通過控制試驗室的溫度和濕度，可以模擬集成電路在高溫條件下的工作情況。

恒溫穩(wěn)定性：試驗室具備精密的溫度控制系統(tǒng)，能夠精確地控制和維持試驗室內部的恒溫穩(wěn)定性。這對于模擬真實場景下的高溫環(huán)境非常重要，以準確評估集成電路在高溫條件下的性能和可靠性。

長時間測試：電路高溫恒溫老化房通常需要進行長時間的測試，以模擬設備在高溫條件下的長期使用情況。這有助于檢測集成電路在高溫環(huán)境下的性能衰減和故障概率。

數(shù)據(jù)記錄與監(jiān)控：試驗室配備了數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控系統(tǒng)，可以實時記錄和監(jiān)測試驗過程中的溫度、濕度等參數(shù)。這些數(shù)據(jù)可以用于后續(xù)分析和評估集成電路在高溫條件下的性能變化和可靠性。

安全措施：電路高溫恒溫老化房還應具備安全措施，以確保試驗人員和設備的安全。這可能包括防火、排氣系統(tǒng)、溫度異常報警系統(tǒng)等。

通過使用集成電路高溫恒溫老化房，集成電路制造商和研發(fā)機構可以更好地了解其產品在高溫環(huán)境下的表現(xiàn)，并采取相應措施改進設計和提高可靠性。這對于保證集成電路產品的品質和壽命非常重要。