步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室老化試驗(yàn)房
簡(jiǎn)要描述:步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室老化試驗(yàn)房1. 控制系統(tǒng)采用制冷和加熱雙向 PID 調(diào)節(jié),確保溫度波動(dòng)度在;0.2℃范 圍內(nèi)時(shí)低溫?zé)o加熱輸出,高溫?zé)o制冷輸出,較主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加 熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成,其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼 板,箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-10-13
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步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室老化試驗(yàn)房主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加 熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成,其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼 板,箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口(試驗(yàn)樣品包含鋰電池?fù)Q電柜); 外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板,外箱涂層耐腐蝕防刮傷;中間保溫 層為高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。
步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室老化試驗(yàn)房
1.步入式高低溫交變濕熱室,可對(duì)一二次成套聯(lián)調(diào)設(shè)備、環(huán)網(wǎng)箱、配電箱等大型設(shè)備和材料進(jìn)行高、低溫以及不同濕度環(huán)境和陽(yáng)光輻射環(huán)境
下存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用時(shí)的適用性測(cè)試,以評(píng)估產(chǎn)品的工作性能。
2. 步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成,其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼板,箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口(試驗(yàn)樣品包含鋰電池?fù)Q電柜);外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板,外箱涂層耐腐蝕防刮傷;中間保溫層為高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風(fēng)循環(huán)加熱方式制熱;制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型,冷卻塔和制冷機(jī)組放置于室外,加熱制冷系統(tǒng)由微電腦控制器控制。電路控制系統(tǒng)主要對(duì)高低
溫室起控制、監(jiān)視保護(hù)作用。
3. 步入式高低溫交變實(shí)驗(yàn)室內(nèi)預(yù)留有氙氣燈墻(氙燈掛鉤及風(fēng)冷接口),可對(duì)被試產(chǎn)品進(jìn)行陽(yáng)光輻射試驗(yàn)。
節(jié)能設(shè)計(jì)
采用 PID+PWM 原理的 VRF(制冷劑流量控制)技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行配備冷控制 PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)技術(shù)(在線性降溫和低溫恒溫過(guò)程中,通過(guò)冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸出量達(dá)到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù))。采用該模式的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 40%以上
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) C:恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) D:交變濕熱
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 3 部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 4 部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 9 部分:低溫試驗(yàn)
GJB 360.8-2009 高溫壽命試驗(yàn)
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備